Interference microscopy
Girişim mikroskobu, bölünmüş iki ışık ışını arasındaki yol farklarının ölçülmesini içerir. [1][2][3] İki ışının etkileşimli dalgaları yapıcı veya yıkıcı olarak etkileşime girer ve bu da interferometri ile ölçülerek mikroskobik nesneleri görselleştirilebilir.
Girişim mikroskobisi, canlı hücreler veya ince filmler gibi şeffaf veya neredeyse şeffaf örneklerin, boyama gerekmeden görülmesini sağlar; ışıktaki faz kaymalarını gözlemcinin görebileceği genlik veya kontrast farklılıklarına dönüştürür.
Malzeme bilimi ve yüzey metrolojisinde, girişim mikroskopisi yüzey topoğrafyasını karakterize etmek ve mikro ölçekli yüzey düzensizliklerini nicelendirmek için yaygın olarak kullanılır; çok ışınlı girişim teknikleriyle nanometre civarında dikey çözünürlükler elde edilebilir. [4]
Türler şunlardır:
Ayrıca bakınız
[edit]Kaynaklar
[edit]- ↑ Cite error: The named reference
irm_pmc2was invoked but never defined (see the help page). - ↑ Cite error: The named reference
grom_quantitative_phase2was invoked but never defined (see the help page). - ↑ Cite error: The named reference
interference_microscope_objectives2was invoked but never defined (see the help page). - ↑ Cite error: The named reference
slim_review2was invoked but never defined (see the help page).
| [simge|36x36px] | Bu optikle ilgili makale bir taslaktır. Eksik bilgileri ekleyerek Wikipedia'ya yardımcı olabilirsiniz. |
 | This optics-related article is a stub. You can help Wikipedia by adding missing information. |